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产品介绍:
线扫2.5D相位偏折成像系统采用先进的相位偏折技术,通过线阵工业相机扫描与相位偏折算法实现高精度三维形貌检测。系统突破传统成像局限,具备非接触式测量、微米级分辨率与快速成像能力,可精准捕捉物体表面微观形变及复杂轮廓。广泛应用于工业检测、精密制造等领域,为质量控制与形态分析提供可靠解决方案。
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